Testovací sondy
In-circuit-test (ICT), analýza výrobních vard (MDA) a funkční test (FCT) jsou nejpoužívanější metody pro testování sestav elektronických desek. Každá z těchto testovacích metod má své vlastní limity týkající se pokrytí testu a detekce/diagnostiky závad. Proto se obvykle kombinují. Ve všech případech je vyžadováno připojení testovací jednotky (UUT) nebo testovacího zařízení (DUT) pomocí pružinové kontaktní sondy.
Zásuvka pro testovací sondu, S 21.00 - L
Zásuvka pro testovací sondu, S 26.00-L
Zásuvka pro testovací sondu, S 30.00-L
Zásuvka pro testovací sondu, S 50.00 L
Zásuvka pro testovací sondu, S 75.00-L
Aktuality
Pozvánka na Amper 2025
Školení duben
ONLINE: Teorie bezolovnatého pájení
8. 4. 2025
více o tomto školení
Opravy/rework BGA a SMD, reballing, kontrola zapájených BGA, SMD
29. - 30. 4. 2025
více o tomto školení
Kontaktujte nás
Po - pá: 7:00 - 15:00 hodin
Tel.: +420466670035 (7-15 hod.)
GSM: +420733533932 (7-16 hod.)
Mobil: +420733533976 (7-16 hod.)
E-mail: abetec@abetec.cz
__________________________
Přečtěte si Obchodní podmínky a Etický kodex obchodu společnosti ABE.TEC.
Aktuality
Pozvánka na Amper 2025
Školení duben
ONLINE: Teorie bezolovnatého pájení
8. 4. 2025
více o tomto školení
Opravy/rework BGA a SMD, reballing, kontrola zapájených BGA, SMD
29. - 30. 4. 2025
více o tomto školení
Kontaktujte nás
Po - pá: 7:00 - 15:00 hodin
Tel.: +420466670035 (7-15 hod.)
GSM: +420733533932 (7-16 hod.)
Mobil: +420733533976 (7-16 hod.)
E-mail: abetec@abetec.cz
__________________________
Přečtěte si Obchodní podmínky a Etický kodex obchodu společnosti ABE.TEC.